Metrologia w skali makro – jak zmieniają się polskie laboratoria metrologiczne

Optiv Reference 763 Dual Z

Drugie z urządzeń multisensorowych jest natomiast oparte o maszynę optyczną. Do niej zostały dołożone dodatkowe głowice, również pozwalające na eksplorację świata mikro i nano. Optiv Reference 763 Dual Z, bo o tej maszynie mowa, posiada granitową konstrukcję typu portalowego (z nieruchomym portalem) oraz dwie niezależne pinole (osie pionowe) obsługujące sensor wizyjny, skaningowy sensor stykowy oraz interferometryczny sensor światła białego (WLI ‒ ang. White Light Interferometer), będący skaningowym interferometrem koherentnym (CSI) w rozumieniu ISO 25178-604.

W systemach i głowicach interferometrycznych pracujących w oparciu o tę technikę zamiast jednej długości światła stosujemy interferometry światła białego lub chociaż polichromatyczne (fragment pasma widzialnego). Klasyczna optyka to układ dwóch kamer monochromatycznych z różnymi kombinacjami oświetlenia, z przełączaniem pomiędzy obrazem makro a także mikro. Sensor stykowy zapewnia również pomiar skaningowy, rejestrując nawet 1000 punktów/s. Natomiast interferometr światła białego pozwala na obserwację nierówności na obszarze przekraczającym 7,0 x 4,5 mm. Całe urządzenie posiada aktywny układ tłumienia drgań jak również aktywny system kompensacji temperaturowej maszyny. Wartości błędów dopuszczalnych EUXY,MPE zgodnie z normą ISO 10360-7 nie przekraczają 0,5+L/600 μm, a EUZ, MPE dla sensora wizyjnego zgodnie z ISO 10360-2 jest poniżej 0,5+L/300 μm. Nad całością funkcjonowania czuwa oprogramowanie PC-DMIS CAD++. Zapewnia ono (oprócz wielu opcji pomiarowych) także realizację prac przy zastosowaniu różnych sensorów pozwalających na uzyskanie danych we wspólnym układzie współrzędnych.

Podziękowania

Projekt „NSMET Narodowa Sieć Metrologii Współrzędnościowej” współfinansowany jest z Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach „Działania 4.2 Programu Operacyjnego Inteligentny Rozwój 2014-2020”; nr umowy POIR.04.02.00-00-D012/20-00.

Piśmiennictwo

1. Wieczorowski M.: Wyzwania metrologii w kontekście przemysłu przyszłości. „Stal Metale Nowe Technologie”, 3-4, 2021, 66-74.
2. Rekas A. i in.: Analysis of Tool Geometry for the Stamping Process of Large‐Size Car Body Components Using a 3D Optical Measurement System. „Materials”, 14, 2021, 7608.
3. Gapinski B. et al.: The application of micro computed tomography to assess quality of parts manufactured by means of rapid prototyping. „Polymers”, 62 (1).
4. Gapinski B. et al.: Measurement of surface topography using computed tomography. „Lecture Notes in Mechanical Engineering”, 2018, 815-824.
5. Wieczorowski M. i in.: Metrologia długości w roku pandemii. „Stal Metale Nowe Technologie”, 3-4, 2022, 67-76.

prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski
dr hab. inż. Bartosz Gapiński
dr hab. inż. Rafał Talar
prof. dr hab. Ewa Stachowska
dr inż. Michał Jakubowicz
dr inż. Karol Grochalski
dr inż. Dawid Kucharski
dr inż. Lidia Marciniak-Podsadna
mgr inż. Patryk Mietliński
mgr inż. Natalia Swojak
Politechnika Poznańska
Instytut Technologii Mechanicznej

Galeria